2024年春の年会

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VIII. 核不拡散・保障措置・核セキュリティ » 801-2 核不拡散・保障措置・核セキュリティ技術

[2F10-14] 核不拡散・核セキュリティ

2024年3月27日(水) 14:45 〜 16:10 F会場 (21号館3F 21-314)

座長:堀 雅人(JAEA)

15:30 〜 15:45

[2F13] 核鑑識分析のための深層学習モデルを用いた電子顕微鏡画像解析に基づく核物質異同識別

*木村 祥紀1、松本 哲也2、山口 知輝1 (1. JAEA、2. パワーコンピュータ)

キーワード:核鑑識、顕微鏡画像、深層学習モデル

本研究では、電子顕微鏡で観察される核物質の微細構造に基づいて、信頼性の高い核鑑識分析の結果を適時に提供する技術の開発を進めている。本発表では、顕微鏡画像解析において深層距離学習モデルを適用することで、核物質の分類と未知核物質の検知を同時実現する手法の有効性を検証した結果を報告し、本研究の今後の展望を議論する。

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