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[2L03] 照射後試験データの実験解析におけるモデリングパラメータと実験データの不確かさ低減
キーワード:データ同化、一般化線型最小二乗法(GLLS)、モデリングパラメータ、照射後試験(PIE)
照射後試験(PIE)データの実験解析において、データ同化の手法である一般化線型最小二乗法(GLLS)を用いてモデリングパラメータと実験データの不確かさを低減し、C/Eの変動を観察して、各不確かさが計算結果に与える影響を調べた。以前までの研究では、アクチニドのみを対象核種としていたが、燃焼度に影響を与えるNd-148も対象核種に加えた。また、データ同化を用いて考慮した全ての不確かさを低減したとき、C/E値は1.0になることを確認した。加えて、考慮されていない不確かさ(USU)が計算結果に及ぼす影響を調べた。
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