スケジュール 5 いいね! 0 コメント (0) 11:00 〜 11:15 [17-18] XFEMによるクラッド付きCT試験片の疲労き裂進展解析 〇李 炎龍1、長嶋 利夫2 (1.上智大学大学院、2.上智大学) 抄録パスワード認証抄録の閲覧やZoom会場へのアクセスにはパスワードが必要です。パスワードを入力して認証してください。 パスワード 認証