[P2-22] 大学生の強迫傾向における認知処理と事象関連電位の関係
キーワード:強迫傾向、事象関連電位、大学生
健常大学生を強迫傾向高・低群(各10名)に分け,go/no-go課題遂行中の反応時間とエラー率,および事象関連電位(ERP)をセッション前・後半で比較した。その結果,反応時間は高群で低群よりも遅延する傾向がみられたが,エラー数は群間に有意差が認められなかった。ERPのP2,P3,およびN450成分の振幅の結果では,go刺激に対するN450振幅は高群のセッション後半において前頭部(Fz)と中心部(Cz)で増大したが,no-go刺激に対しては群やセッションの効果は有意ではなかった。潜時の検討では,低群の後半セッションでgo刺激に対してFzとCzでP2が速化し,高群の後半でno-go刺激に対して頭頂部(Pz)でP2が速化していた。P3では高群の後半でno-go刺激に対して遅延していた。脅迫傾向の高低の違いは,反応時間とP2成分の潜時およびN450成分の振幅に生ずることが示唆される。
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