Schedule 1 6:20 PM - 6:40 PM [1B29] 表面被覆したシリコン薄膜負極のin-situ AFM観察による被膜形成過程の解析 *Yuki Kijima1, Ryuya Hioki1, Masakazu Haruta1, Takayuki Doi1, Minoru Inaba1 (1. Doshisha University) Keywords:Silicon anode, Solid Electrolyte Interface (SEI), Atomic Force Microscopy (AFM)