スケジュール 1 18:20 〜 18:40 [1B29] 表面被覆したシリコン薄膜負極のin-situ AFM観察による被膜形成過程の解析 *木島 友規1、日置 龍矢1、春田 正和1、土井 貴之1、稲葉 稔1 (1. 同志社大学大学院) キーワード:Silicon anode, Solid Electrolyte Interface (SEI), Atomic Force Microscopy (AFM)