第58回電池討論会

講演情報

インターナショナルセッション

インターナショナルセッション

インターナショナルセッション2

2017年11月15日(水) 13:00 〜 17:40 H会場 (401+402+403)

16:00 〜 16:20

[2H22] Battery transient response test : a new methodology to examine the battery status

*Kim Dong Woon1,2, Kim Youn Goo3, Yoon Chul Oh3 (1. MSc in Physics、2. Project Engineer, McScience Inc.、3. McScience Inc.)

キーワード:Internal Resistance, Transient Response, Impedance Spectroscopy