スケジュール 2 09:00 〜 09:20 [2I01] 超高速高解像度X線スキャナを用いたLIB内部短絡試験の内部状態Operando観察 *横島 時彦1、向山 大吉1、逢坂 哲彌1、高澤 孝次2、江草 俊2、直井 里美3、石倉 悟3、山本 耕市3 (1. 早稲田大学、2. 東芝インフラシステムズ、3. 製品評価技術基盤機構) キーワード:Litium ion battery, Safety test, Operando analysis