【ナノスケール界面・表面の構造とダイナミクス】
セッション5（一般講演5）

[1W16] X線反射率法によるイオン液体|水界面構造の電位依存性の解析

〇片倉 誠士¹、天野 健一¹、作花 哲夫¹、Bu Wei²、Lin Binhua²、Schlossman Mark³、西 直哉¹ (1. 京都大学大学院 工学研究科、2. University of Chicago、3. University of Illinois at Chicago)