Carrier lifetime measurements for wide gap semiconductors SiC and GaN

講演情報

Technical Session(Special Session & Regular Session)

2018年10月2日(火) 10:30 〜 12:30 Room 5 (Conference Center 501)

Chairs: Kazuhiro Tsuruta (DENSO CORPORATION), Jean-Michel Morelle (VALEO)

Technical Session(Special Session & Regular Session)

^○Masashi Kato^1,2 (1.Nagoya Institute of Technology, Japan, 2.Nagoya University, Japan)

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