14:20 〜 14:40 [105] 放射光と二次元半導体検出器INTPIX4NAを用いたcos α法応力測定システムによる線揺動データ逆投影残留応力分布回復法 ○西村龍太郎1, 佐々木敏彦2, 岸本俊二1, 三井真吾3 (1.KEK, 2.金沢大, 3.滋賀大) PDF ダウンロード スケジュール