第33回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会

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官能検査システム化技術

2019年3月11日(月) 10:30 〜 12:00 A会場 (E館E506)

座長:野中 一洋

10:30 〜 11:00

[11A1-01] 機械学習による外観検査への取り組み

橋本 大樹1、〇永田 毅1,2 (1. みずほ情報総研、2. 筑波大学グローバル教育院)

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