第33回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

講演セッション » 信頼性解析技術

信頼性解析技術(2)

2019年3月13日(水) 11:00 〜 12:00 C会場 (E館E606)

座長:中村 直章

11:45 〜 12:00

[13C2-03] 電気・熱・応力連成モデルによるエレクトロマイグレーション劣化解析

〇加藤 光章1、牛流 章弘1、文倉 智也1、大森 隆広1、廣畑 賢治1 (1. 株式会社東芝)

抄録パスワード認証
抄録の閲覧にはパスワードが必要です。パスワードを入力して認証してください。

パスワード