検査技術・バウンダリスキャン技術

2020年3月4日(水) 09:45 〜 10:45 C会場 (A棟A105)

座長:亀山修一

09:45 〜 10:00

[4C1-01] 遅延故障検査容易化設計の同時観測経路の選択によるテスト時間短縮

〇長田奏美¹、四柳浩之¹、橋爪正樹¹ (1. 徳島大学)

10:00 〜 10:15

〇周細紅¹、王森レイ¹、樋上喜信¹、高橋寛¹ (1. 愛媛大学　大学院理工学研究科)

10:15 〜 10:30

〇土屋秀和¹、永尾崇¹、浅川毅¹ (1. 東海大学)

10:30 〜 10:45

〇知野遥香¹、菊池愁也¹、四柳浩之¹、橋爪正樹¹ (1. 徳島大学)