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一般演題

信頼性解析技術

Tue. Mar 3, 2020 4:45 PM - 5:30 PM C会場 (A棟A105)

座長:廣畑賢治

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4:45 PM - 5:00 PM

[3C5-01] 電気・熱・応力連成モデルによるパワーモジュールにおけるエレクトロマイグレーション劣化解析

〇加藤光章¹、大森隆広¹、牛流章弘²、文倉智也¹、廣畑賢治¹ (1. 株式会社東芝、2. 東芝デバイス＆ストレージ株式会社)

5:00 PM - 5:15 PM

[3C5-02] Ni-Sn Solid-Liquid Interdiffusionを用いたSiチップ/Cu基板ダイアタッチ構造におけるAlインサート材の適用によるチップの応力変化挙動

〇伊藤宏文¹、桑原誠¹、臼井正則¹ (1. (株)豊田中央研究所)

5:15 PM - 5:30 PM

[3C5-03] エレクトロマイグレーション抑制知見の人為的ウィスカ創製への応用

〇木村康裕¹、巨陽¹ (1. 名古屋大学)

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