官能検査システム化技術

Thu. Mar 5, 2020 11:00 AM - 12:15 PM B会場 (A棟A202)

座長:野中一洋

11:00 AM - 11:30 AM

[5B1-01] 光学的手法を利用した外観検査技術の数値化に関する研究

〇坂田義太朗¹、古賀淑哲¹、寺崎正¹ (1. 産業技術総合研究所)

11:30 AM - 11:45 AM

〇木下裕敬¹ (1. 株式会社デクシス)

11:45 AM - 12:00 PM

〇原靖彦¹、田中宏卓¹、白井健二¹、菅野純一²、細島侑²、滝沢義信² (1. 日本大学、2. ヴィスコ・テクノロジーズ)

12:00 PM - 12:15 PM

〇永田毅¹、橋本大樹¹ (1. みずほ情報総研株式会社)