光学的手法を利用した外観検査技術の数値化に関する研究

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一般演題

講演セッション » 官能検査システム化技術

Thu. Mar 5, 2020 11:00 AM - 12:15 PM B会場 (A棟A202)

座長:野中一洋

11:00 AM - 11:30 AM

〇坂田義太朗¹、古賀淑哲¹、寺崎正¹ (1. 産業技術総合研究所)

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