スケジュール 1 16:45 〜 17:00 [3C5-01] 電気・熱・応力連成モデルによるパワーモジュールにおけるエレクトロマイグレーション劣化解析 〇加藤 光章1、大森 隆広1、牛流 章弘2、文倉 智也1、廣畑 賢治1 (1. 株式会社東芝、2. 東芝デバイス＆ストレージ株式会社) 抄録パスワード認証抄録の閲覧にはパスワードが必要です。パスワードを入力して認証してください。 パスワード 認証
