第34回エレクトロニクス実装学会春季講演大会

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一般演題

講演セッション » 複合

検査技術・バウンダリスキャン技術

Wed. Mar 4, 2020 9:45 AM - 10:45 AM C会場 (A棟A105)

座長:亀山 修一

9:45 AM - 10:00 AM

[4C1-01] 遅延故障検査容易化設計の同時観測経路の選択によるテスト時間短縮

〇長田 奏美1、四柳 浩之1、橋爪 正樹1 (1. 徳島大学)

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