第34回エレクトロニクス実装学会春季講演大会

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一般演題

講演セッション » 複合

検査技術・バウンダリスキャン技術

Wed. Mar 4, 2020 9:45 AM - 10:45 AM C会場 (A棟A105)

座長:亀山 修一

10:00 AM - 10:15 AM

[4C1-02] メモリベース論理再構成デバイス(MRLD)における劣化状態検知のためのリングオシレータ実装

〇周 細紅1、王 森レイ1、樋上 喜信1、高橋 寛1 (1. 愛媛大学 大学院理工学研究科)

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