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検査技術・バウンダリスキャン技術

2020年3月4日(水) 09:45 〜 10:45 C会場 (A棟A105)

座長:亀山修一

10:15 〜 10:30

[4C1-03] バウンダリスキャンを用いたテスト手法に関する教育システムの開発

〇土屋秀和¹、永尾崇¹、浅川毅¹ (1. 東海大学)

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