第34回エレクトロニクス実装学会春季講演大会

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一般演題

講演セッション » 複合

検査技術・バウンダリスキャン技術

Wed. Mar 4, 2020 9:45 AM - 10:45 AM C会場 (A棟A105)

座長:亀山 修一

10:30 AM - 10:45 AM

[4C1-04] TDC 組込み型バウンダリスキャンを用いる信号遅延監視システムの検討

〇知野 遥香1、菊池 愁也1、四柳 浩之1、橋爪 正樹1 (1. 徳島大学)

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