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官能検査システム化技術

2020年3月5日(木) 11:00 〜 12:15 B会場 (A棟A202)

座長:野中一洋

11:30 〜 11:45

[5B1-02] 多様な欠陥の同時検査を可能とする画像取込技術とその応用

〇木下裕敬¹ (1. 株式会社デクシス)

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