第34回エレクトロニクス実装学会春季講演大会

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官能検査システム化技術

2020年3月5日(木) 11:00 〜 12:15 B会場 (A棟A202)

座長:野中 一洋

12:00 〜 12:15

[5B1-04] 深層学習・機械学習を取り入れた外観検査

〇永田 毅1、橋本 大樹1 (1. みずほ情報総研株式会社)

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