09:00 〜 09:15
〇加藤 光章1、大森 隆広1、牛流 章弘2、文倉 智也1、廣畑 賢治1 (1. 株式会社東芝 研究開発センター、2. 東芝デバイス&ストレージ株式会社 先端ディスクリート開発センター)
一般演題
講演セッション » 信頼性解析技術
2021年3月18日(木) 09:00 〜 10:00 Bセッション (Bセッション)
座長:廣畑 賢治
09:00 〜 09:15
〇加藤 光章1、大森 隆広1、牛流 章弘2、文倉 智也1、廣畑 賢治1 (1. 株式会社東芝 研究開発センター、2. 東芝デバイス&ストレージ株式会社 先端ディスクリート開発センター)
09:15 〜 09:30
〇門田 朋子1、加納 明1、文倉 智也1、上原 英晃1、廣畑 賢治1 (1. 株式会社東芝 研究開発センター)
09:30 〜 09:45
〇春別府 佑1、谷江 尚史1、北野 誠2 (1. (株)日立製作所、2. 元(株)日立製作所)
09:45 〜 10:00
〇堀川 敦1、稲川 慎吾1、山内 恒明1、丸本 佳伸2、相楽 隆2 (1. 日産自動車株式会社 電子技術・システム技術開発本部 電子アーキテクチャ開発部 電子信頼性評価グループ、2. パナソニック株式会社 インダストリアルソリューションズ社 電子材料事業部 モノづくり・品質革新センター)
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