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講演セッション » バウンダリスキャン技術

一般演題

バウンダリスキャン技術

Thu. Mar 18, 2021 10:10 AM - 10:55 AM B (B)

座長:亀山修一

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10:10 AM - 10:25 AM

[18B2-01] 微小遅延故障検査容易化設計用テストクロック制御回路の検討

〇福田康介¹、四柳浩之¹、橋爪正樹¹ (1. 徳島大学)

10:25 AM - 10:40 AM

[18B2-02] TDC組込型バウンダリスキャンの観測セル部分選択による検査時間削減について

〇有元康滋¹、牧野紘史¹、四柳浩之¹、橋爪正樹¹ (1. 徳島大学)

10:40 AM - 10:55 AM

[18B2-03] 製造業のDX：製造現場のデータ利活用を進めるためのCADデータとの連携・標準化

〇松澤浩彦¹、長谷川清久¹ (1. 株式会社　図研)

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