第35回エレクトロニクス実装学会春季講演大会

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一般演題

講演セッション » 複合

官能検査システム化技術・検査技術

Thu. Mar 18, 2021 10:45 AM - 11:55 AM A (A)

座長:野中 一洋

11:10 AM - 11:25 AM

[18A3-02] 多様な欠陥の同時検査を可能とする画像取込技術とその応用

〇木下 裕敬1 (1. 株式会社デクシス)

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