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官能検査システム化技術・検査技術

2021年3月18日(木) 10:45 〜 11:55 Aセッション (Aセッション)

座長:野中一洋

11:10 〜 11:25

[18A3-02] 多様な欠陥の同時検査を可能とする画像取込技術とその応用

〇木下裕敬¹ (1. 株式会社デクシス)

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