第35回エレクトロニクス実装学会春季講演大会

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一般演題

講演セッション » 信頼性解析技術

信頼性解析技術

Thu. Mar 18, 2021 9:00 AM - 10:00 AM B (B)

Chairman:Kenji HIrohata

9:15 AM - 9:30 AM

[18B1-02] はんだ接合部の熱疲労寿命に及ぼす負荷波形の影響

〇門田 朋子1、加納 明1、文倉 智也1、上原 英晃1、廣畑 賢治1 (1. 株式会社東芝 研究開発センター)

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