第35回エレクトロニクス実装学会春季講演大会

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講演セッション » バウンダリスキャン技術

バウンダリスキャン技術

2021年3月18日(木) 10:10 〜 10:55 Bセッション (Bセッション)

座長:亀山 修一

10:10 〜 10:25

[18B2-01] 微小遅延故障検査容易化設計用テストクロック制御回路の検討

〇福田 康介1、四柳 浩之1、橋爪 正樹1 (1. 徳島大学)

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