第35回エレクトロニクス実装学会春季講演大会

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バウンダリスキャン技術

2021年3月18日(木) 10:10 〜 10:55 Bセッション (Bセッション)

座長:亀山 修一

10:25 〜 10:40

[18B2-02] TDC組込型バウンダリスキャンの観測セル部分選択による検査時間削減について

〇有元 康滋1、牧野 紘史1、四柳 浩之1、橋爪 正樹1 (1. 徳島大学)

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