2019 Fall Annual(165th) Meeting

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General Session

3.Microstructures » Analysis/Characterization/Evaluation

[G] Microstructure Observations and Analyses

Fri. Sep 13, 2019 1:00 PM - 3:10 PM B (C25 at 2nd Flr. Building C for General Education)

座長:保田英洋(大阪大学)、奥田 浩司(京都大学)

1:15 PM - 1:30 PM

[45] 多分割反射電子検出器を搭載した走査電子顕微鏡による結晶粒形状の評価

*Otsuka Takeshi1, Otake Yuka1, Hara Masaya1, Ota Yasunori1, Miyazawa Satoshi1 (1. 日本電子)

Keywords:走査電子顕微鏡、結晶組織、粒度分布

走査電子顕微鏡に多分割半導体検出器を搭載し、それらの信号強度差を使って結晶粒を抽出して結晶粒形状の評価を行ったので報告する。

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