日本金属学会2020年秋期(第167回)講演大会

講演情報

一般講演

3.組織 » 分析・解析・評価

[G] 分析・解析・評価

2020年9月18日(金) 13:00 〜 16:00 H会場 (ZoomH会場)

座長:石丸 学(九工大)、今野 豊彦(東北大金研) 副座長(座長補佐):大谷 博司(東北大学)、齊藤元貴(北大)

14:00 〜 14:15

[44] 転移学習を用いた触媒ナノ粒子の電子顕微鏡画像の解析

*小山 朗1、宮内 翔子2、太田 潤2、諸岡 健一3、高橋 由夫4、谷垣 俊明4、品田 博之4、北條 元5、永長 久寛5、村上 恭和1 (1. 九大工、2. 九大シス情、3. 岡山大工、4. 日立基礎研、5. 九大総理工)

キーワード:機械学習、画像解析

電子顕微鏡を利用し触媒ナノ粒子の構造や電位分布を研究する際には、多くの画像を収集した後に、ナノ粒子画像を選別する必要がある。この作業に機械学習を導入し、電子顕微鏡の画像解析の高度化を図った。

要旨・抄録、PDFの閲覧には参加者用アカウントでのログインが必要です。参加者ログイン後に閲覧・ダウンロードできます。
» 参加者用ログイン