日本金属学会 2020年春期(第166回)講演大会

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General Session

3.Microstructure » Analysis/Characterization/Evaluation

[G] Analysis/Characterization/Evaluation

Thu. Mar 19, 2020 1:00 PM - 2:55 PM Rm. M (W833,3rd Flr., West Bldg.8)

Chair:Satoshi Hata(Kyushu University)

1:00 PM - 1:15 PM

[333] Noise reduction from electron hologram using hidden Markov model

*TAMAOKA Takehiro1, Midoh Yoshihiro2, Yamamoto Kazuo3, Nakamae Koji2, Murakami Yasukazu1 (1. Kyushu Univ., 2. Osaka Univ., 3. JFCC)

Keywords:電子顕微鏡、電子線ホログラフィー、画像処理

高感度電位・磁束分布解析に向け,隠れマルコフモデルを用いたウェーブレット係数の雑音抑制をLaFeO3/SrTiO3二層薄膜を用いて取得した電子線ホログラムに適用した結果を示し,本手法の有用性を述べる。

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