日本金属学会 2020年春期(第166回)講演大会

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General Session

3.Microstructure » Analysis/Characterization/Evaluation

[G] Analysis/Characterization/Evaluation

Thu. Mar 19, 2020 1:00 PM - 2:55 PM Rm. M (W833,3rd Flr., West Bldg.8)

Chair:Satoshi Hata(Kyushu University)

1:55 PM - 2:10 PM

[336] In-situ biasing of domain structures in a Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-PbTiO3 single crystal by high-voltage electron microscopy

*SATO Kazuhisa1,2, ASAKURA Naoya3, YASUDA Hidehiro1,2 (1. UHVEM, Osaka Univ., 2. Osaka Univ., 3. Osaka Univ.)

Keywords:超高圧電子顕微鏡、電場印加観察、電子直接検出型カメラ、リラクサー、ドメイン

電場印加によるPMN-PTのドメイン構造変化を電子直接検出型CMOSカメラを搭載した超高圧電子顕微鏡を用いて2.5ミリ秒スケールでその場観察した。

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