3:40 PM - 4:00 PM
[S1.5] Development of New Technique for Crystal Orientation Analysis of Polycrystalline Material ~X-ray Backscatter Diffraction~
Keywords:結晶方位分布解析、X線後方散乱回折法、XBSD、Nd-Fe-B、多結晶材料
多結晶材料の結晶方位分布解析における新手法として、X線後方散乱回折(XBSD)法の開発を進めている。本講演では、多結晶Nd-Fe-B磁石を用いたXBSDの測定例と解析結果に加え、今後の課題について紹介する。
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