[G] Melting and solidification process/High temperature process

[102] Relationship between the twinning probability and the degree of undercooling

*Keiji SHIGA¹, Atsuko TAKAHASHI¹, Kensaku MAEDA¹, Haruhiko MORITO¹, Kozo FUJIWARA¹ (1. Inst. of Mater.)

Keywords:化合物半導体、融液成長、双晶、その場観察

化合物半導体InSbの一方向凝固過程における双晶形成過程をその場観察し、固相－固相－液相の三相境界モデルを用いて粒界溝における双晶核形成頻度と過冷却度の関係を調べた。