[G] Electric/Electronic/Optical Materials

[162] Model Analysis of Specimen Length-dependence of Critical Current in Superconducting Tape with Multiply Cracked Superconducting Layer

*Shojiro OCHIAI¹, Hiroshi OKUDA² (1. 京大・ESISM、2. 京大・工)

Keywords:超伝導テープ、臨界電流、クラックサイズ分布、試料長さ、モデル解析

超伝導層に様々なサイズのクラックが形成された超伝導テープの臨界電流の試料長さ依存性の描述を目指し、モンテカルロシミュレーションとモデル解析を行った。