SAXS tomography cross-section in multilayered Al-Zn alloy wire

11:20 AM - 11:35 AM

[227] SAXS tomography cross-section in multilayered Al-Zn alloy wire

*Shan LIN¹, Daiki Tokiwa¹, Hiroshi Okuda¹, Hiroyasu Masunaga², Taizo Kabe² (1. Kyoto Univ., 2. JASRI)

Keywords:X線小角散乱法、X線トモグラフィ、Al-Zn合金、多層線材

断面が500μm角となる Al / Al-Zn / Al多層線材を用いて、20μm径ペンシルビームX線を20μm間隔で小角散乱法によるトモグラフィ測定を検討した。結果として相対的な吸収係数と散乱プロファイルが2次元断面で得られた

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