省スペースで取り扱いが簡単なラウエカメラ！
単結晶材料のX線回折(ラウエ斑点)画像を高速に取得できます。
空冷X線発生装置と高感度検出器が一体となった卓上型です。
 ●小型・軽量で省スペース
●測定時間：約60秒
●低出力X線管の採用で冷却機構は空冷、メンテナンスの手間を削減します
●X線を垂直下向きに入射するため試料の設置が簡単です
●顕微鏡を用いて精密な位置合わせが可能です
●6軸(Θ/Tan./Rad./X/Y/Z)試料ステージ付き
●X線作業主任者不要で誰でも使えます●主面方位の測定
●切り出し方位の確認・調整
●結晶性評価
●結晶成長、加工関連
●半導体デバイス製造・開発

※大型試料や現場測定(単結晶タービンブレードなど）のご要望がございましたらご相談ください。
試料フリーサイズ対応ポータブル型装置のご用意可能です。
デモ測定も承っております。
 X線単結晶方位測定装置