[P] P192~P204

[P204] Normal spectral emissivity measurement of Si-Ge melts using electromagnetic levitation technique under static magnetic field

*Yuri ARAI¹, Makoto OHTSUKA², Masayoshi ADACHI², Hiroyuki HUKUYAMA² (1. 東北大（院生）、2. 東北大　多元研)

Keywords:Si、Ge、放射率、融体

Si-Ge融体の熱伝導率測定を目的としており、そのためには融体の熱容量の測定が必要である。本研究では熱容量測定に必要なレーザー吸収率を得るためSi-50 mol％Ge融体の垂直分光放射率の測定を行った。