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[336] Pd-Cu-Ni合金とSn-58Biはんだとの界面反応
キーワード:Pd-Cu-Ni、Sn-58Bi、Aging treatment、Reaction layer、EPMA
半導体動作検査時にプローブ材にSn-Bi系はんだが凝着し損傷することが報告されている。本研究では、界面反応の抑制を目的としてNiを添加したPd-Cu-Ni合金とSn-58Biはんだとの反応を調査した。
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