Exhibitors information
[19] JEOL Ltd.
日本電子の展示ブースでは、固体表面の微小領域の観察・元素分析に用いられるEPMA、オージェマイクロプローブ、XPS、XRFなどの各装置の原理や分析領域深さの違いおよびアプリケーションをご紹介します。
また、9月19日のランチョンセミナーでは, 微量元素分析やマップ分析において、ハイスループット化を実現した最新のEPMAの機能についてご紹介します。
また、9月19日のランチョンセミナーでは, 微量元素分析やマップ分析において、ハイスループット化を実現した最新のEPMAの機能についてご紹介します。
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Department
科学・計測機器営業本部 SI販売促進室
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Address
100-0004
東京都千代田区大手町2-1-1
大手町野村ビル13階 -
Tel
03-6262-3567
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Fax
03-6262-3577
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