日本電子の展示ブースでは、固体表面の微小領域の観察・元素分析に用いられるEPMA、オージェマイクロプローブ、XPS、XRFなどの各装置の原理や分析領域深さの違いおよびアプリケーションをご紹介します。
また、9月19日のランチョンセミナーでは, 微量元素分析やマップ分析において、ハイスループット化を実現した最新のEPMAの機能についてご紹介します。