[21] 株式会社ニューメタルス エンド ケミカルス コーポレーション
E.A. Fischione Instruments社製TEM用イオンミリング装置TEMミル
ダメージのない高品質の透過型電子顕微鏡(TEM)用試料を作製するためのイオンミリング装置です。特許技術のTrueFocusイオン源は、広範な加速電圧に対して細いビーム径を維持します。イオンビームの加速電圧は100eV~10keVの範囲で、ミリング角度は-15°~+10°の範囲で任意に...
ダメージのない高品質の透過型電子顕微鏡(TEM)用試料を作製するためのイオンミリング装置です。特許技術のTrueFocusイオン源は、広範な加速電圧に対して細いビーム径を維持します。イオンビームの加速電圧は100eV~10keVの範囲で、ミリング角度は-15°~+10°の範囲で任意に...