日本金属学会2024年秋期(第175回)講演大会

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ポスターセッション

3.Microstructure » Microstructure

[P] P7~P25

Wed. Sep 18, 2024 12:00 PM - 1:30 PM Poster Session Room1 (Assembly Hall at Osaka Univ. Hall)

12:00 PM - 1:30 PM

[P24] Development of STM observation method for the interior of metal samples using electric field evaporation by APT

*Kaito UEDA1, Junnosuke Oishi1, Shu Kurokawa2 (1. Kyoto Univ., 2. Kyoto Univ.)

Keywords:3次元アトムプローブ、STM

本研究ではアトムプローブトモグラフィー法(APT法)をナノスケールの元素分析および試料表面作製手法として使用し,走査トンネル顕微鏡(STM)にてAPT試料の高分解能観察を行う複合法の開発を行った.

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