日本金属学会2024年秋期(第175回)講演大会

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[G] 分析・解析・評価

2024年9月20日(金) 13:00 〜 15:45 E会場 (全学教育推進機構講義B棟1階B108)

座長:波多 聰(九州大学)、佐藤 和久(大阪大学)

14:30 〜 14:45

[170] その場電子顕微鏡法によるタングステンナノワイヤー成長の観察と力応答解析

*鈴木 快聖1、吉澤 広樹1、木塚 徳志2 (1. 筑波大院、2. 筑波大)

キーワード:タングステン、その場観察、タングステンナノワイヤー、透過電子顕微鏡

本研究では、タングステン(W)ナノ接点を引っ張り変形させ、材料力学的試験が可能なその場透過電子顕微鏡法(TEM)を用いて、Wナノワイヤーの成長を試みた。

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