[G] 分析・解析・評価

[170] その場電子顕微鏡法によるタングステンナノワイヤー成長の観察と力応答解析

*鈴木 快聖¹、吉澤 広樹¹、木塚 徳志² (1. 筑波大院、2. 筑波大)

キーワード：タングステン、その場観察、タングステンナノワイヤー、透過電子顕微鏡

本研究では、タングステン（W）ナノ接点を引っ張り変形させ、材料力学的試験が可能なその場透過電子顕微鏡法（TEM）を用いて、Wナノワイヤーの成長を試みた。