14:45 〜 15:00 [171] その場電子顕微鏡法によるAuナノ接点の機械的特性のサイズ依存性解析 *吉澤 広樹1、鈴木 快聖1、木塚 徳志2 (1. 筑波大院、2. 筑波大) キーワード:その場観察、ナノ接点、透過電子顕微鏡、引張り試験 本研究では、Auナノ接点の機械的特性を調査するため、原子間力顕微鏡の機能を組み入れた透過電子顕微鏡を使用して、Auナノ接点の引張り過程をその場観察した。