日本金属学会2024年秋期(第175回)講演大会

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一般講演

3.Microstructure » Analysis/Characterization/Evaluation

[G] Analysis/Characterization/Evaluation

Fri. Sep 20, 2024 1:00 PM - 3:45 PM Room E (B108 1st floor Building B Center for Education in Liberal Arts and Sciences)

Chair:Satoshi Hata

3:15 PM - 3:30 PM

[173] Electron microscopy observation of crystal defects in polycrystalline BaFe2As2

*Satoshi HATA1,2, Zimeng GUO1, Koki MURAOKA3, Hongye GAO2, Yusuke SHIMADA1, Takaaki HARADA3, Shinnosuke TOKUTA4, Yuta HASEGAWA4, Akiyasu YAMAMOTO5 (1. FES, Kyushu Univ., 2. URC, Kyushu Univ., 3. IGSES, Kyushu Univ., 4. Graduate School, Tokyo Univ. Agric. & Technol., 5. Tokyo Univ. Agric. & Technol.)

Keywords:電子顕微鏡、超伝導体、結晶欠陥、ボールミル、焼結

鉄系超伝導体BaFe2As2の面状欠陥の電子顕微鏡微細構造と臨界電流特性の関係を報告する。面状欠陥は(001)に平行であり、ボールミル処理とプラズマ焼結の条件に依存して高密度に生成すると臨界電流特性が向上する。

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