[G] 分析・解析・評価

[173] BaFe₂As₂多結晶体に形成される結晶欠陥の電子顕微鏡観察

*波多 聰^1,2、郭 子萌¹、村岡 幸樹³、高 紅叶²、嶋田 雄介¹、原田 崇彰³、德田 進之介⁴、長谷川 友大⁴、山本 明保⁵ (1. 九大総理工、2. 九大URC、3. 九大総理工（院生）、4. 東京農工大工（院生）、5. 東京農工大工)

キーワード：電子顕微鏡、超伝導体、結晶欠陥、ボールミル、焼結

鉄系超伝導体BaFe2As2の面状欠陥の電子顕微鏡微細構造と臨界電流特性の関係を報告する。面状欠陥は(001)に平行であり、ボールミル処理とプラズマ焼結の条件に依存して高密度に生成すると臨界電流特性が向上する。